专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]覆金属层叠板及电路基板-CN202011550852.X在审
  • 铃木智之 - 日铁化学材料株式会社
  • 2020-12-24 - 2021-06-29 - B32B27/08
  • 本发明提供一种即便在高频传输中也能减少传输损耗且尺寸稳定性优异的覆金属层叠板及电路基板。覆金属层叠板包括:第一金属层、与所述第一金属层的单侧相接的第一传输损耗抑制层、第二金属层、与所述第二金属层的单侧相接的第二传输损耗抑制层、以及介隔存在于第一传输损耗抑制层与第二传输损耗抑制层之间的多层树脂层树脂层叠体具有第一传输损耗抑制层及第二传输损耗抑制层、以及至少两层以上的尺寸精度维持层及层叠于尺寸精度维持层之间的中间传输损耗抑制层。覆金属层叠板中,在将10GHz下的第一传输损耗抑制层及第二传输损耗抑制层的介电损耗正切设为Df1、将尺寸精度维持层的介电损耗正切设为Df2<
  • 金属层叠路基
  • [发明专利]损耗传输装置组-CN202010750550.0在审
  • 萧心端;钟宜兴 - 贸联国际股份有限公司
  • 2020-07-30 - 2022-02-18 - H01R12/52
  • 本发明提出一抗损耗传输装置组,其具有一电子装置及一线材组件。电子装置具有一装置电路板,多个金属电极设于装置电路板上而做为母端接点。线材组件具有线材本体及公端连接件,公端连接件设于线材本体的端部。换言之,本发明的抗损耗传输装置组中减少了两次相接处的损耗,因此能有效防止信号传输时的衰减。
  • 损耗传输装置
  • [发明专利]一种高压电力传输损耗评估方法及系统-CN202211145919.0有效
  • 莫思铭;周莉;程时发;潘静雯 - 江苏永鼎股份有限公司
  • 2022-09-20 - 2022-12-13 - G06F16/901
  • 本申请公开了一种高压电力传输损耗评估方法及系统,属于数据处理技术领域,所述方法包括:对高压电力传输网进行多维度信息采集,构建高压电力数据库;进行数据特征提取,获得高压电力数据特征库;进行数据分类,对各分类进行传输损耗影响因子分析,获得数据传输因子对应关系;进行环境影响性分析,确定环境损耗影响率;根据数据传输因子对应关系,进行传输影响性分析,确定各传输因子影响率;根据各传输因子影响率、环境损耗影响率,对各分类高压电力进行损耗评估,获得高压损耗评估结果。本申请解决了现有技术中存在对电力传输损耗进行片面评估,评估结果可靠性低的技术问题,达到了对电力传输损耗进行全面评估,提高准确性的技术效果。
  • 一种高压电力传输损耗评估方法系统
  • [发明专利]芯片信号传输损耗的测试方法、测试装置及可读存储介质-CN202010886662.9有效
  • 张毅军 - 苏州浪潮智能科技有限公司
  • 2020-08-28 - 2022-12-23 - G01R31/317
  • 本发明公开了一种芯片信号传输损耗的测试方法、测试装置及可读存储介质,先获取待测试芯片的传输通道的目标长度值,基于目标长度值确定用于构成传输通道的延长板组合,再利用延长板组合对待测试芯片的信号传输损耗进行测试即在对待测试芯片的信号传输损耗进行测试时,对于不同目标长度值的传输通道,均采用同一标准的预设数目,以预设数目延长板组成的延长板组合来构成传输通道,统一不同目标长度值的传输通道中连接器对损耗造成的影响,从而减小了连接器对芯片信号传输损耗测试整体的影响,进而有利于迫近信号的极限损耗能力,获得更为准确的芯片信号传输损耗测试结果。
  • 芯片信号传输损耗测试方法装置可读存储介质
  • [发明专利]衰减装置及测试系统-CN202111087359.3有效
  • 陈哲凡;王典;李珊;庄凯杰;黄雪娟 - 加特兰微电子科技(上海)有限公司
  • 2021-09-16 - 2023-08-04 - H01P1/22
  • 该衰减装置包括信号传输通道及至少一个辐射损耗结构,信号传输通道用于对所传输信号的能量进行传输衰减;辐射损耗结构设置于所述信号传输通道中;所述辐射损耗结构具有第一工作状态和第二工作状态;所述辐射损耗结构被配置为:当处于所述第一工作状态时,所述辐射损耗结构用于对所述信号传输通道所传输信号的能量进行辐射衰减;当处于所述第二工作状态时,所述辐射损耗结构用于对所述信号传输通道所传输信号的能量进行传输衰减。上述实施例提供的衰减装置可以通过辐射损耗结构有效地改变衰减装置产生的衰减值,使用简单,成本低廉,并且能够给测试系统带来更大的设计空间。
  • 衰减装置测试系统
  • [发明专利]天线增益测量方法及测量系统-CN202310739019.7在审
  • 林伟;唐彦波;杨程;吴伯平 - 长电科技管理有限公司
  • 2023-06-20 - 2023-09-22 - G01R29/10
  • 本发明揭示了一种天线增益测量方法及测量系统,包括:于损耗测量链路加载待测组件而获取待测组件的第一传输损耗,待测组件包括探针组件及待测天线,探针组件用于对待测天线进行馈电;获取探针组件的第二传输损耗;根据标准天线的标准增益、标准天线的标准损耗以及第一传输损耗、第二传输损耗获取待测天线的增益,其中,标准天线的标准损耗为标准天线加载于损耗测量链路时获取的损耗。本发明解决了由于探针组件的损耗所引起的测量误差,通过获取探针组件的传输损耗,使用比较法计算获取待测天线的增益数据,提高待测天线的增益测量的准确性。
  • 天线增益测量方法测量系统

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